Historia firmy HEIDENHAIN

sięga roku 1889, kiedy to Wilhelm Heidenhain otwiera w Berlinie zakład trawienia metali, zajmujący się wytwarzaniem szablonów, szyldów, podziałek oraz skal pomiarowych. W miejsce zniszczonej podczas II wojny światowej fabryki syn Wilhelma Heidenhain zakłada w Traunreut firmę DR. JOHANNES HEIDENHAIN. Pierwszymi produktami ponownie są podziałki oraz skale do wag detalicznych. Wkrótce do programu produkcyjnego włączone zostają optyczne systemy pomiaru położenia. Z początkiem lat sześćdziesiątych wdrożone zostają przetworniki do pomiaru położenia liniowego oraz kątowego bazujące na detekcji fotoelektrycznej. Tego typu innowacja otwiera drogę do automatyzacji pracy licznych systemów i obrabiarek w przemyśle produkcyjnym.

Od połowy lat siedemdziesiątych HEIDENHAIN staje się bardzo ważnym producentem silników i układów napędowych do obrabiarek.

Od początku swojego istnienia firma dba o stały rozwój techniczny. Dodatkowo, w roku 1970, z inicjatywy Dr. Johannes Heidenhain, firma wnosi swoje udziały do fundacji charytatywnej. Krok ten jeszcze bardziej umacnia niezależność firmy i umożliwia kolejne inwestycje w badania naukowe i dalszy rozwój.

Najważniejsze wydarzenia w historii firmy

1889 HEIDENHAIN otwiera w Berlinie zakład trawienia metali
1923 Dr. Johannes Heidenhain rozpoczyna pracę w firmie ojca
1928 Opracowana zostaje technologia kopiowania fluidami ołowiowymi METALLUR
1948 Firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN rozpoczyna swoją działalność w Traunreut
1950 Opracowana zostaje technologia DIADUR
1970 Założona zostaje niedochodowa organizacja DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH
1980 Umiera Dr. Johannes Heidenhain
2012 Firma HEIDENHAIN jest reprezentowana we wszystkich uprzemysłowionych krajach

Projekty metrologiczne

1961 Fotoelektryczny mikroskop pomiarowy
1966 Komparator interferencyjny dla niemieckiego Krajowego Instytutu Metrologii (PTB)
1971 Podziałka do pomiaru kąta i przyrząd do kontroli położenia kątowego dla PTB
1977 Precyzyjny goniometr dla PTB
1989 Enkodery do pomiaru kąta do Teleskopu Nowej Technologii (ang. New Technology Telescope, NTT)
1999 Enkodery do pomiaru kąta do Bardzo Dużego Teleskopu (ang. Very Large Telescope, VLT)
1999 Skale liniowe do porównań międzynarodowych pomiaru długości NANO-3, w których uczestniczą liczne Krajowe Instytuty Metrologii
2001 Nanometrowy komparator interferencyjny dla PTB
2003 Porównanie pomiaru kąta pomiędzy firmą HEIDENHAIN, PTB i AIST (Japoński Narodowy Instytut Zaawansowanej Nauki Przemysłowej i Technologii)
2004 Porównanie pomiaru długości pomiędzy firmą HEIDENHAIN, PTB i MITUTOYO
2005 Porównanie pomiaru kąta pomiędzy firmą HEIDENHAIN i PTB

Najważniejsze osiągnięcia w produkcji skal pomiarowych

1936 Podziałka na szkle o dokładności  ± 0.015 mm, naniesiona metodą kopiowania fotomechanicznego
1943 Podziałka do pomiaru kąta o dokładności ± 3 sekundy, naniesiona metoda kopiowania
1952 Skale do wag detalicznych staja się głównym źródłem dochodów
1967 Siatki samonośne, mikrostruktury
1985 Znaczniki referencyjne z kodowanymi odległościami, do inkrementalnych liniałów pomiarowych
1986 Podziałki z siatką fazową
1995 Siatki przestrzenne do przyrządów realizujących dwu-osiowy pomiar
2002 Planarne struktury siatek fazowych do liniałów interefrencyjnych
2005 Siatki o strukturach odpornych na zanieczyszczenie, wytwarzane metodą ablacji laserowej
2009 Wielkopowierzchniowe siatki krzyżowe (400 mm x 400 mm) do systemów pomiarowych w przemyśle półprzewodnikowym

Najważniejsze osiągnięcia w produkcji przyrządów pomiarowych: liniały pomiarowe

1952 Optyczne liniały pomiarowe do obrabiarek
1961 Inkrementalny liniał pomiarowy LID 1, okres podziałki 8 µm / krok pomiaru 2 µm
1963 Absolutny liniał pomiarowy LIC z 18 torami, kod binarny / krok pomiaru 5 µm
1965 Interferometry laserowe do kalibracji obrabiarek
1966/1968 Interferometry laserowe do kalibracji obrabiarek
1987 Inkrementalny liniał zamknięty LS 101, krok pomiaru 0.1 µm
1987 Interferencyjny liniał otwarty LIP 101, krok pomiaru 0.02 µm
1989 Interferencyjny liniał otwarty LIP 301, krok pomiaru 1 nm
1994 Absolutny liniał zamknięty LC 181 z 7 torami, interfejs EnDat, długość pomiarowa 3 m / krok pomiaru 0.1 µm
1996 Absolutny liniał zamknięty LC 481 z 2 torami, kod pseudolosowy, EnDat, długość pomiarowa 2 m / krok pomiaru 0.1 µm
2005 Absolutny liniał zamknięty LC 183 z kodem pseudolosowym, EnDat 2.2, długość pomiarowa 4 m / krok pomiaru 0.005 µm
2008 Interferencyjny liniał pomiarowy LIP 200 o okresie sygnału 0.512 µm i możliwości przejazdu z szybkością do 3 m/s
2010 Absolutny liniał otwarty LIC 4000 z 2 torami, kod pseudolosowy, EnDat 2.2, długości pomiarowe do 27 m, rozdzielczość 1 nm
2011 Absolutny liniał zamknięty LC 200, kod pseudolosowy, długości pomiarowe do 28 m, rozdzielczość  do 10 nm

Najważniejsze osiągnięcia w produkcji przyrządów pomiarowych: liniały pomiarowe

1952 Optyczne liniały pomiarowe do obrabiarek
1961 Inkrementalny liniał pomiarowy LID 1, okres podziałki 8 µm / krok pomiaru 2 µm
1963 Absolutny liniał pomiarowy LIC z 18 torami, kod binarny / krok pomiaru 5 µm
1965 Interferometry laserowe do kalibracji obrabiarek
1966/1968 Interferometry laserowe do kalibracji obrabiarek
1987 Inkrementalny liniał zamknięty LS 101, krok pomiaru 0.1 µm
1987 Interferencyjny liniał otwarty LIP 101, krok pomiaru 0.02 µm
1989 Interferencyjny liniał otwarty LIP 301, krok pomiaru 1 nm
1994 Absolutny liniał zamknięty LC 181 z 7 torami, interfejs EnDat, długość pomiarowa 3 m / krok pomiaru 0.1 µm
1996 Absolutny liniał zamknięty LC 481 z 2 torami, kod pseudolosowy, EnDat, długość pomiarowa 2 m / krok pomiaru 0.1 µm
2005 Absolutny liniał zamknięty LC 183 z kodem pseudolosowym, EnDat 2.2, długość pomiarowa 4 m / krok pomiaru 0.005 µm
2008 Interferencyjny liniał pomiarowy LIP 200 o okresie sygnału 0.512 µm i możliwości przejazdu z szybkością do 3 m/s
2010 Absolutny liniał otwarty LIC 4000 z 2 torami, kod pseudolosowy, EnDat 2.2, długości pomiarowe do 27 m, rozdzielczość 1 nm
2011 Absolutny liniał zamknięty LC 200, kod pseudolosowy, długości pomiarowe do 28 m, rozdzielczość  do 10 nm

Najważniejsze osiągnięcia w produkcji przyrządów pomiarowych: przetworniki do pomiaru kąta

1952 Optyczne przetworniki do pomiaru kąta
1957/1961 Fotoelektryczny przetwornik do pomiaru kąta ROD 1 z 40 000 okresów sygnału na obrót, 10 000 impulsów/obrót
1962 ROD 1 z 72 000 okresów sygnału na obrót
1964 Absolutny przetwornik do pomiaru kąta ROC 15 / rozdzielczość 17 bitów
1975 Inkrementalny przetwornik do pomiaru kąta ROD 800, dokładność ± 1 sekunda
1986 Inkrementalny przetwornik do pomiaru kąta RON 905, dokładność ± 0.2 sekundy
1997 Absolutny przetwornik do pomiaru kąta RCN 723, z integralnym łożyskiem, z wałkiem drążonym, jednoobrotowy, rozdzielczość 23 bity, interfejs EnDat, dokładność ± 2 sekundy
2000 Interferencyjny przetwornik do pomiaru kąta ERP 880 z 180 000 okresów sygnału na obrót, dokładność ± 0.2 sekundy
2004 Absolutny przetwornik do pomiaru kąta RCN 727, średnica otworu wałka do 100 mm
2009 Interferencyjny przetwornik do pomiaru kąta ROP 8080 do urządzeń testujących płytki półprzewodnikowe, połączenie struktury nośnej i przetwornika do pomiaru kąta, 360 000 okresów sygnału na obrót
2011 Zminiaturyzowany, interferencyjny przetwornik do pomiaru kąta ERP 1080 wykonany w technologii single-chip

Najważniejsze osiągnięcia w produkcji przyrządów pomiarowych: przetworniki obrotowo-impulsowe

1957/1961 Fotoelektryczny inkrementalny przetwornik obrotowo-impulsowy ROD 1, 10 000 impulsów/obrót
1964 Serie standardowych inkrementalnych przetworników obrotowo-impulsowych ROD 2 / ROD 4
1981 Inkrementalny przetwornik obrotowo-impulsowy ROD 426: standard przemysłowy
1987 Absolutny przetwornik wieloobrotowy ROC 221 S, w trybie jednoobrotowym: 12 bitów, w trybie wieloobrotowym: 9 bitów
1992 Inkrementalny przetwornik obrotowo-impulsowy ERN 1300 do serwonapędów, temperatura pracy do 120 °C
1993 Absolutne przetworniki jednoobrotowe i wieloobrotowe ECN 1300 i EQN 1300
1997 Magnetyczny modułowy przetwornik obrotowo-impulsowy ERM 100
2000 Zminiaturyzowany absolutny przetwornik obrotowo-impulsowy EQN 1100, wykonany w technologii „chip-on-board” (montaż powierzchniowy)
2000 Absolutny przetwornik jednoobrotowy ECN 100, średnica otworu wałka do 50 mm
2004 Zminiaturyzowane absolutne przetworniki jednoobrotowe i wieloobrotowe ECI 1100 i EQI 1100 ze skanowaniem indukcyjnym
2007 Absolutny przetwornik obrotowo-impulsowy z certyfikatem „Bezpieczeństwo funkcjonalne” SIL2/PL d i interfejsem EnDat 2.2

Najważniejsze osiągnięcia w produkcji przyrządów pomiarowych: sterowania numeryczne i cyfrowe wskaźniki położenia

1968 Dwukierunkowy licznik jednoosiowy VRZ 59.4
1974 Cyfrowy wskaźnik położenia HEIDENHAIN 5041
1976 Numeryczne sterowania położeniem TNC 110 i TNC 120 dla 3 osi
1979 Numeryczne sterowania odcinkowe TNC 131 / TNC 135
1981 Numeryczne sterowanie kształtowe TNC 145 dla 3 osi
1984 Numeryczne sterowanie kształtowe TNC 155 dla 4 osi, z graficzną symulacją obróbki detalu
1995 Synchroniczny interfejs szeregowy EnDat dla absolutnych przetworników położenia
1996 Numeryczne sterowanie kształtowe TNC 426 ze zintegrowanym cyfrowym regulatorem napędów, dla 5 osi
1996 Kompletny pakiet sterowania HEIDENHAIN TNC 410 MA z napędami i silnikami
2004 Sterowanie kształtowe iTNC 530 z alternatywnym trybem pracy smarT.NC
2007 Sterowanie kształtowe TNC 620 z HSCI, szeregowym interfejsem HEIDENHAIN dla sterowań
2011 Sterowanie kształtowe TNC 640 z oprogramowaniem zawierającym cykle frezarkowe i tokarkowe
Data publikacji: Luty 2015
Kategoria: CNC

Współpracujemy z najlepszymi w branży - nasi partnerzy: